Bibliografia US
Publikacje
Przeglądanie
Czasopisma
Konferencje
Publikacje
Serie wydawnicze
Słowa kluczowe
Twórcy
Warsztat
Dyscypliny naukowe
Listy MNiSW
Inne zasoby MNiSW
Informacje
Kontakt
Logowanie
corrections due to scattering processes
Słowo kluczowe
Słowo
corrections due to scattering processes
Język
Angielski (English)
Publikacji
1
Publikacje
Artykuł
High-energy electron measurements with thin Si detectors / Gokul Das H, R. Dubey, K. Czerski, M. Kaczmarski, A. Kowalska, N. Targosz-Ślęczka, M. Valat. // Measurement. 2024, , s.1-8 DOI: 10.1016/j.measurement.2024.114392
2024
Lista słów kluczowych